徕卡电镜制样产品资料_Leica EM TIC 3X离子研磨仪_样本、参数、价格、应用案例、配置对比等

 您是否需要制备硬的，软的，多孔，热敏感，脆性和/或非均质多相复合型材料。获得高质量样品表面，以适宜于扫描电子显微镜(SEM1分析和原子力显微镜(AFM)检测?Leica EM TIC3X采用的宽场离子束研磨系统非常适合能谱分析EDS，波谱分析WDS，俄歇分析Auger，背散射电子衍射分析EBSD。离子束研磨技术适用于多种多样材质样品，获得高质量切割截面或抛光平面的解决方案。使用该技术对样品进行处理，样品受到形变或损伤的可能性低，可暴露出样品内部真实的结构信息。