如何用数码显微镜观察极薄样品

　　数码显微镜的核心部分包括了光学部分和显示芯片，现在主流的显示芯片有CCD和CMOS两种，前者优于后者。当数码显微镜含微粒或低原子序数的极薄样品成像时，由于数码显微镜弹性散射电子的比率很小，而且大部分散射电子都在近轴区。因此用散射吸收的机理不能有效给出足够衬度的图像，这就是基于利用电子微粒性成像法的局限性，于是人们想到求助于电子显微镜的波动性。

　　从波动学说的角度，电子和样品显微镜的作用可给出透射波和散射波，如果显微镜物镜光阑能让两束或两束以上的波同时通过，则显微镜中的像就是这些波经透镜作用后，按一定相位关系干涉合成的结果。当相位条件合适时，散射波的振幅恰好可与透射波的振幅数值相加或相减，从而在徕卡数码显微镜图像上表现出相应的效果。由于显微镜样品内的微结构决定了散射波的强弱分布，因此图像上就会出现不同的干涉强度。这种强度分布就是像的相位衬度。研究表明，较佳相位条件要求数码显微镜物镜处于某种离焦状态，而离焦量的大小应与物镜的球差系数以及电子波长等匹配。换句话说，这种成像方法的特点是利用欠焦来补偿物镜的像差，从而显著提高电子显微像的分辨率。