介绍徕卡正置显微镜的角度测量法

　　徕卡正置显微镜采用了反射和透射两种照明形式，并配有偏光装置。在反射光照明下可进行明暗场和偏光观察，又可在透射光照明下作明场观察，可选配摄影装置与显微镜相连接拍摄照片等。

　　角度测量法是常用的方法，是显微镜技术较为复杂的技术手段。如果一个晶体的被测角的每边条线的两端均在一个平面上时，还可以取得较为准确的数值。但是在徕卡正置显微镜的物质世界并非都是如此简单，往往被测角的两边直线中的一条直线持有一定的倾斜度。这种情况下只有用微分学方法演算，才能得到近似正确的数据。我们用徕卡显微镜直观地进行测量时，只靠测角目镜或旋转载物台来取得数据。目镜内有十字划线，如果目镜内有十字形测微尺就更好。具体测角时先把十字划线的X或Y对准被测角的一边直线。记录刻度的数字，转动目镜或转动标本，再将另一条边线对准十字划线的同一轴，记录刻度数字，这样可以求得被测角度。

　　徕卡正置显微镜可供工厂、高等院校、科研机构及电子工业部门作金相、矿相、晶体、微电子等方面的试验与分析研究之用。