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徕卡工业显微镜有两种测定方法

发布日期: 2020-02-20
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  徕卡工业显微镜是将传统的光学显微镜与计算机(数码相机)结合在一起,可以同时在目镜上作显微观察,也可在计算机(数码相机)显示屏幕上观察实时动态图像,并能将所需要的图片进行编辑、处理、修改保存和打印、做报告等功能。不仅可以鉴别和分析各种金属、合金材料、非金属物质的组织结构及集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等的一些表面状况,还可以广泛地应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质和透明的物质。如金属、陶瓷、集成电路、电子芯片、印刷电路板、液晶板、薄膜、以及其它非金属材料等。
  徕卡工业显微镜的测定有两种方法:
  1、直角坐标测定:
  测定时必须使测定物的直角坐标方向和十字形工作台的移动方向一致时方可进行测定。采用直角坐标测定时由十字移动工作台的移动量就可直接读取直角坐标值,若是大型工具显微镜,使用瞄准孔直角坐标测定上的像连接观测眼即可正确测定,而在进行测定物直角坐标方向和十字移动工作台之校正时,使用装设在大型工具显微镜上的装配式旋转工作台非常方便,至于小型工具显微镜只要旋转台附件即可。
  2、角度测定:
  使用旋转工作台或角度观测透镜即可测定。一般而言角度观测透镜的精度较佳。虽然小型工具显微镜无法测定高度,但是若把量银装在支柱的上端,然后利用显微镜的上下移动量就可测定高度了。然而,由于焦点深度,支柱倾度及量银和光轴间等因素误差,欲正确测定相当困难。
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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司
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